Mesure de la topographie du logo Apple
Exigences de mesure
Scanner la topographie 3D du logo Apple sur le boîtier, extraire le profil mesurer la différence de segment à différents endroits
Aperçu des principales caractéristiques
1. Mesure sans contact, conception intégrée
2. Scan de topographie 3D, traitement de données multifonctionnel
3. Adapté à la mesure précise de divers matériaux
4. Facile à utiliser, facile à installer et à enlever
5. Vitesse de balayage rapide et haute précision de positionnement
6. Garantie de précision de répétition de ± 0,5 à ± 1 μm
7. Haute stabilité et forte capacité anti - interférence




Résultats de mesure
Différences de segments de position différentes, sensiblement entre 0 et 15 µm
Résolution des problèmes rencontrés par les dispositifs de mesure à ce stade
1. Petite quantité d'usure, difficile à déterminer
2. Il y a certaines exigences pour la mesure de contact du matériau, il y a des pertes sur le matériau de mesure
3. Mauvaise position d'usure incertaine, faible précision de la vitesse de mesure lente, grande erreur de mesure
4. Structure complexe, coût élevé
