L'analyseur de caractérisation en champ proche distant vnf - 200 VCSEL est conçu pour l'analyse de caractérisation en champ proche de surface VCSEL, combinant des mesures rapides, une résolution optique élevée et une précision de mesure élevée. L'instrument utilise une optique microscopique combinée à un système d'imagerie et optimise la conception en fonction des caractéristiques du VCSEL pour réaliser l'analyse de rayonnement d'imagerie microscopique à fort grossissement du VCSEL. En une seule mesure, vous obtenez des données de répartition de réseau bidimensionnel de surface VCSEL, de détection de points défectueux et de luminosité des rayons, tout en obtenant une taille de point unique. Equipé d'un logiciel d'analyse dédié, il peut produire des rapports de test conformes aux normes. Pour une analyse rapide et précise des caractéristiques de surface VCSEL dans les lignes de production et les laboratoires.